【嘉勤點評】芯視元的平整度校正專利，通過測量及運算并經過數據擬合處理得到LCoS微顯示芯片模塊中所有像素點的相位校正量，從而實現LCoS空間光調制器的顯示芯片平整度校正，適用于對顯示芯片平整度要求較高的場景。

近日由芯視元承辦的“芯機聯動”AR/VR集成電路公共服務平臺啟用儀式暨第二屆AR/VR論壇隆重舉行。芯視元發布了新品空間光調制器芯光-II-101，它搭載了自主研發、具有完全知識產權的高性能硅基液晶芯片(LCoS) 。

隨著對波前控制精度要求的提高，對液晶空間光調制器自身特性測量與分析也變得日益重要。因芯片表面曲率與ITO玻璃表面曲率不同，導致之間灌裝的液晶不平整，而空間光調制器的相位信息對這種不平整液晶比較敏感，能夠得到一個在合理誤差范圍內的相位響應曲線成為提升其性能關鍵，因此校正平整度至關重要。

為此，芯視元于2020年11月23日申請了一項名為“LCoS空間光調制器的顯示芯片平整度校正系統”的發明專利（申請號: 202011316717.9），申請人為南京芯視元電子有限公司。

圖1 顯示芯片平整度校正系統結構框圖

圖1為LCoS空間光調制器的顯示芯片平整度校正系統的結構框圖，該系統包括微控制模塊、驅動模塊、相位調制測量模塊、LCoS微顯示芯片模塊。

其中目標LCoS空間光調制器由驅動模塊和LCoS微顯示芯片模塊組成。相位調制測量模塊能夠在LCoS微顯示芯片模塊顯示各測試圖片時，測量LCoS微顯示芯片模塊中各預設校正基準點的相位信息，進而獲取各校正基準點分別所對應的相位響應曲線數據，并反饋給微控制模塊。預設校正基準點為按照預設的位置在LCoS顯示芯片中的各像素點中選取的像素點，預設校正基準點的個數不超過目標LCoS空間光調制器的LCoS顯示芯片的分辨率。微控制模塊根據各校正基準點的相位響應曲線數據，獲取各校正基準點的相位校正量，并將相位校正量和指令數據發送至驅動模塊。

驅動模塊驅動點亮LCoS微顯示芯片模塊，還可以根據各校正基準點的相位校正量，獲取LCoS微顯示芯片模塊中各像素點的相位校正量，并根據其對對應的像素點的相位進行校正。LCoS空間光調制器可以接收但不限于接收RGB數據、MIPI類型的數據。

相位調制測量模塊對各測試圖片進行測量，將獲取的各校正基準點的相位響應曲線數據發送至微控制模塊，直至微控制模塊發送至驅動模塊的控制指令將各校正基準點的相位響應曲線中的各相位值和參考相位基準曲線中的對應位置的相位的差值校正至允許誤差范圍內。如果所有的相位差值均在允許的誤差范圍內，則直接停止校正，否則結束一次相位校正后微控制模塊重新發送測試圖片數據，重復前述校正過程，直至各相位差值均在允許誤差范圍內。

簡而言之，芯視元的平整度校正專利，通過測量及運算并經過數據擬合處理得到LCoS微顯示芯片模塊中所有像素點的相位校正量，從而實現LCoS空間光調制器的顯示芯片平整度校正，適用于對顯示芯片平整度要求較高的場景。

芯視元是一家專注于智慧顯示芯片研發的高新技術企業，致力于微顯示芯片的研究和研發，將持續推出系列LCoS、Micro LED和Micro OLED產品以滿足行業的各種需求，服務于行業上下游合作伙伴。

（holly）